性能测试中的存储高可用切换
白癜风的图片 http://www.xftobacco.com/hcbx/hztj/本文介绍在有业务压力下的存储高可用切换测试,从中发现的影响切换时间的问题,以及对问题的分析。 杨建旭,师从中国工程院院士陈纯教授,于年获得浙江大学计算机学院硕士学位,拥有授权发明专利0余项、SCI/EI索引及核心期刊论文0余篇。曾就职于VIA(中国)、VMware(中国),具有Linux/FreeBSD/Windows/MacOS/iOS等平台的开发经验,并在自动化测试开发、银行业系统的性能测试、性能优化方面有深入研究。个人 |
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